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Incomplete melting of the Si(100) surface from molecular-dynamics simulations using the Effective-Medium Tight-Binding model

机译:si(100)表面从分子动力学中不完全熔化   使用Effective-medium Tight-Binding模型进行模拟

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摘要

We present molecular-dynamics simulations of the Si(100) surface in thetemperature range 1100-1750K. To describe the total energy and forces we usethe Effective-Medium Tight-Binding model. The defect-free surface is found tomelt at the bulk melting point, which we determine to be 1650 K, but for asurface with dimer vacancies we find a pre-melting of the first two layers 100K below the melting point. We show that these findings can rationalize recentexperimental studies of the high temperature Si(100) surface.
机译:我们目前在1100-1750K温度范围内的Si(100)表面的分子动力学模拟。为了描述总能量和力,我们使用有效-中等紧缚模型。发现无缺陷的表面在整体熔点处熔化,我们确定其为1650 K,但是对于具有二聚物空位的表面,我们发现前两层的熔点低于熔点100K。我们表明,这些发现可以合理化高温Si(100)表面的最新实验研究。

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